冷热冲击试验箱是 IC 芯片和小型电子产品测试的理想选择。设计由两个独立控制的内箱构成。一个内箱是高温的，另一个是低温的。产品在高温和低温箱之间快速转移，从而对样品产生温度冲击,以帮助发现电子元件和产品组装中的产品缺陷。
凭借LOW GWP（全球变暖潜势）技术，我们的测试室可提供高达40%的节能和R-449A制冷剂，可让您的测试面向未来。
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