半导体老化是一种检测半导体器件早期故障的方法。它要求在一组应力条件下对器件进行测试，这些条件通常涉及125°C到150°C的高温（通常，一些“高可靠性”器件可以在200°C或更高温度下进行测试），持续时间单位为小时。昊极科技定制半导体老化测试试验箱。

在此期间，设备的电源输入端被施加了一个偏置电压。如果没有施加额外的刺激，则称为静态老化。如果使用数字或模拟输入刺激设备，则必须监控设备以了解设备何时以及是否发生故障。这称为监控或动态老化。温度、时间长度和其他条件通常由一组标准控制，或与设备的最终用户达成一致。

老化测试试图从电子产品可靠性的曲线图的第1阶段清除故障，这给出了电子元件的故障率与时间图。

这条曲线分为三个阶段：

第 1 阶段：早期阶段-这是一个组件出现早期故障的时期。这是由于在分子水平上缺乏对制造过程的控制。在此期间，组件的故障率很高，但该率会随着时间的推移而降低。 （蓝色曲线显示由于早期故障导致的故障率）

第 2 阶段：正常使用寿命-这是故障率几乎恒定的时期，并且由于随机发生的故障。（以绿色曲线显示）

第 3 阶段：磨损寿命终止-以部件老化导致故障率增加为标志的时期；这一时期标志着设备使用寿命的结束。这些故障是由于设备中的关键路径磨损所致。（红色曲线显示由于老化导致的故障率）。

为了执行此测试，设备被加载到专门制造的老化板上的插座中。这些插槽可以手动加载，也可以使用自动加载器（例如来自昊极科技定制的自动加载器系列的产品）加载。

可能老化的QFN封装器件示例，半导体器件测试用开顶老化插座

一旦待测设备 (昊极科技定制半导体老化可靠性试验箱) 被加载到老化板上的插座中，该板就会被放入专门用于这些板和应用的老化系统中。半导体的老化系统有很多种。昊极科技制造各种系统以适应从4针到1,000多针的设备。对于功耗低于1W到超过100W的设备。特定系统还将具有许多电源，以提供现代设备上使用的各种电压。这些范围可以从几毫伏到超过100V，从几毫瓦到超过500A。

除了电源之外，昊极科技的半导体测试试验箱老化系统还能够提供多个I/O，在老化过程中对DUT进行激励、测量和监控。昊极科技的工程师可以与您一起确定您的设备所需的正确系统、电路板和编程。

昊极科技科定制用于复杂、低、中、高功率设备的可靠性老化测试试验箱。

一旦电路板被加载到老化系统中，特定的测试程序就会在这些电路板和设备上运行，以对这些电路板和设备进行压力、测试和评估，以满足指定的要求。这将包括温度（测试区域温度、DUT封装温度或器件表面温度）、电压、用于激励器件的数字模式以及用于监控通过/失败条件的参数等因素。

测试完成后，会生成每个设备的测试数据记录，以便在老化后进行排序对比。

除了传统的半导体老化试验箱外，另一个常见的半导体可靠性测试是HAST老化试验箱。有关HAST的更多信息，请参阅我们的HAST老化试验箱产品介绍。

昊极科技在解决半导体行业复杂的老化和可靠性测试方面拥有20多年的经验。

有关老化应用测试以及昊极科技如何帮助您和您的团队实现目标的更多信息，请联系我们，我们将很乐意为您提供更多的老化测试解决方案。

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